隱形眼鏡中心厚度和基弧測量系統（超聲法）

產品介紹

隱形眼鏡中心厚度和基弧測量系統（超聲法）整個測量腔體包含一個塑料水槽和鏡片支座，鏡片支座的直徑為已知，超聲探頭從鏡片支座下方穿入，對準鏡片內表面，其發出聚焦型聲波的焦點位于支架中心。鏡片支座上覆蓋有一層厚度非常小的塑料薄膜，塑料水槽內注滿鹽溶液。只要將被測角膜接觸鏡凹面朝下放到支座上，塑料薄膜就成為矢高的基準位置。

測量時，超聲探頭產生一個穿透鹽溶液的銳聚焦超聲波能量短脈沖，這個脈沖的部分能量將從塑料薄膜，鏡片的內表面、鏡片外表面，和鹽溶液表面反射回探頭。此時測厚儀就會記錄下整個回波，然后非常精確的測量*次回波和第二次回波間隔時間，以及第二次回波和第三次回波之間時間間隔。（第四次回波對應的是鹽溶液表面的反射，此處忽略。）

*次回波和第二次回波之間的時間間隔與塑料薄膜和鏡片內表面之間的距離（即矢高）成正比的，第二次回波和第三次回波之間的時間間隔對應的就是鏡片的厚度。可以通過公式計算出鏡片的矢高和厚度。

而基弧的曲率半徑則可以由公式計算得到。

此處即可得到1-矢高，2-中心厚度，R-基弧曲率半徑

校準：

任何超聲測量設備的精度都取決于校準。對于角膜接觸鏡的測量，其精度取決于聲波在鹽溶液中的傳輸速度和特定的鏡片材料。請注意鹽溶液中的聲波速度會隨著溫度和濃度而顯著變化，且鏡片中的聲波速度也會受溫度和鏡片成份的影響。

建議的校準方法是在恒溫下測量一個已知基弧和中心厚度的樣品，然后校準超聲測厚儀的聲波。在校準良好的情況下，矢高和中心厚度的誤差范圍可以控制在+/- 0.01 mm。

隱形眼鏡中心厚度和基弧測量系統（超聲法）產品構成

* 穿透性高精度多層超聲測厚儀

* 微型水浸式聚焦探頭和連接器

* 多層測量軟件（不含PC）

* 測量腔：含亞克力測量室和鏡片支座

* 夾具系統：含可上下調節的定位裝置及四個夾具

* 夾具包含：通用型傾斜夾具（黑色+白色），快速夾具（黑色+白色）

隱形眼鏡中心厚度和基弧測量系統（超聲法）主要技術參數

* 厚度測量范圍：0.08~635mm（根據材料和探頭配置而定）

* 材料聲速范圍：0.508 mm/μs～13.998 mm/μs

* 分辨率：低分辨率0.1mm，標準分辨率0.01mm，高分辨率（可選）0.001mm

* 探頭頻率范圍：標準：2.0 MHz～30 MHz（–3 dB）

* 檢波：全波、RF波、正半波、負半波

* 測量層數：4層（多層軟件選項）

* 具有差分模式和縮減率模式

* 時基B掃描模式，每次掃查可獲得10000個可查讀數

* 帶有數字式過濾器的高動態增益技術

* 輸出接口：MicroSD，USB，RS232，VGA

* 內置數據記錄：475000個厚度測量讀數，或20000個帶厚度值的波形

* 防護性能：IP67

* 電源：AC/DC適配器，24 V；鋰離子電池，23.760 Wh；或4節AA輔助電池。

* 夾具高度可調范圍：0~15mm

* 快速夾具孔徑：15mm臺階孔